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  • 半導體參數分析儀RTM2-霍爾源測系統
    半導體參數分析儀RTM2-霍爾源測系統
    半導體參數分析儀RTM2-霍爾源測系統利用半導體參數分析儀RTM2的集成開關矩陣實現無限的精度和穩定性用于片狀、霍爾和電阻張量的測量。
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  • 時域熱反射測量系統 (TDTR 測試系統)
    時域熱反射測量系統 (TDTR 測試系統)
    我司新推出的時域熱反射測量系統可用于測量金屬薄膜、塊體或液體的熱導率、界面熱阻等多項熱物性參數,薄膜測量厚度可達納米量級!在微納結構新材料的研發與分析等方面得以越來越廣泛的應用。 時域熱反射測量系統 (TDTR 測試系統)
    型號:    廠商性質:代理商
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  • FLIM高效率熒光壽命成像系統
    FLIM高效率熒光壽命成像系統
    高效率熒光壽命成像系統或FLIM是基于熒光樣品中不同區域的熒光的指數衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個像素的強度,這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對比度,還可以產生顯示其他衰減路徑變化的圖像。
    型號:FLIM    廠商性質:代理商
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